本技術(shù)涉及檢測，尤其涉及涂層厚度檢測方法、涂布裝置、檢測設(shè)備及存儲介質(zhì)。

背景技術(shù)：

1、極片膜卷會在經(jīng)過涂層涂布后，被切割為多個極片，以供形成電池時使用，在進(jìn)行涂層的涂布時，通常要求極片膜卷上的不同位置的涂層厚度具有一致性，從而使得由不同極片分別形成的電池一致性較強(qiáng)。

2、然而，現(xiàn)有的涂層厚度檢測方法中，由于極片膜卷在進(jìn)行移動時，可能出現(xiàn)偏移現(xiàn)象，使得檢測位置相對于預(yù)期位置產(chǎn)生偏差，從而導(dǎo)致檢測得到的涂層厚度準(zhǔn)確性較低，也即，現(xiàn)有的涂層厚度檢測的準(zhǔn)確性較低。

技術(shù)實現(xiàn)思路

1、本技術(shù)主要解決的技術(shù)問題是提供涂層厚度檢測方法、涂布裝置、檢測設(shè)備及存儲介質(zhì)，能夠提高涂層厚度檢測的準(zhǔn)確性。

2、第一方面，本技術(shù)提供了一種涂層厚度檢測方法，應(yīng)用于涂布裝置，涂布裝置具有間隔設(shè)置的第一檢測位置和第二檢測位置，涂布裝置用于控制極片膜卷進(jìn)行移動，依次經(jīng)過第一檢測位置和第二檢測位置；涂層厚度檢測方法包括：獲取位于第一檢測位置的極片膜卷的目標(biāo)點位與極片膜卷的目標(biāo)長邊之間的第一距離，并且，檢測位于第一檢測位置的目標(biāo)點位的第一厚度；控制位于第二檢測位置與目標(biāo)長邊之間的第二距離為第一距離，并且，檢測位于第二檢測位置的目標(biāo)點位的第二厚度；基于第一厚度和第二厚度，確定目標(biāo)點位的涂層厚度；第一檢測位置位于極片膜卷的涂布前區(qū)域，第二檢測位置位于極片膜卷的涂布后區(qū)域。

3、本技術(shù)實施例的技術(shù)方案中，在目標(biāo)點位隨極片膜卷移動至第一檢測位置時，獲取到目標(biāo)點位與目標(biāo)長邊之間的第一距離，并對第一檢測位置的目標(biāo)點位進(jìn)行檢測得到第一厚度，之后，在目標(biāo)點位隨極片膜卷移動而經(jīng)過第一檢測位置，到達(dá)第二檢測位置或在第二檢測位置的極片膜卷的寬度方向上時，將第二檢測位置與目標(biāo)長邊之間的第二距離等于第一距離，使得第二檢測位置與目標(biāo)點位重合，對第二檢測位置的目標(biāo)點位進(jìn)行檢測得到第二厚度，以分別在兩個檢測位置分別針對極片膜卷的同一個點位進(jìn)行厚度檢測，得到該第一厚度和該第二厚度，基于第一厚度和第二厚度進(jìn)行相應(yīng)處理確定目標(biāo)點位的涂層厚度，實現(xiàn)涂層厚度檢測?；谏鲜龇绞?，能夠在極片膜卷的目標(biāo)點位抵達(dá)第二檢測位置或在第二檢測位置的極片膜卷的寬度方向上時，通過使得第二檢測位置與目標(biāo)長邊之間的距離，相等于目標(biāo)點位在第一檢測位置時的第一檢測位置與目標(biāo)長邊之間的距離，使得第二檢測位置與目標(biāo)點位重合，降低因極片膜卷在移動時因出現(xiàn)寬度方向上的偏移，而導(dǎo)致第二檢測位置的實際檢測點位與目標(biāo)點位發(fā)生偏差的可能性，進(jìn)而降低了因第二檢測位置的實際檢測點位與目標(biāo)點位發(fā)生偏差而使得涂層厚度檢測的結(jié)果失真的可能性，提高了涂層厚度檢測的準(zhǔn)確性。

4、在一些實施例中，獲取位于第一檢測位置的極片膜卷的目標(biāo)點位與極片膜卷的目標(biāo)長邊之間的第一距離，并且，檢測位于第一檢測位置的目標(biāo)點位的第一厚度，包括：在第一時刻，獲取位于第一檢測位置的目標(biāo)點位與目標(biāo)長邊之間的第一距離，并且，檢測位于第一檢測位置的目標(biāo)點位的第一厚度；控制位于第二檢測位置與目標(biāo)長邊之間的第二距離為第一距離，并且，檢測位于第二檢測位置的目標(biāo)點位的第二厚度，包括：在第二時刻，控制位于第二檢測位置與目標(biāo)長邊之間的第二距離為第一距離，并且，檢測位于第二檢測位置的目標(biāo)點位的第二厚度；第一時刻與第二時刻之間的時長為預(yù)設(shè)時長。

5、本技術(shù)實施例的技術(shù)方案中，第一時刻可以是指目標(biāo)點位隨極片膜卷移動至第一檢測位置的時刻，此時可獲取到目標(biāo)點位與目標(biāo)長邊之間的第一距離，并對第一檢測位置的目標(biāo)點位進(jìn)行檢測得到第一厚度，以及，通過使得第一時刻與第二時刻之間的時長為預(yù)設(shè)時長，預(yù)設(shè)時長可以是極片膜卷從第一檢測位置移動至第二檢測位置所需的時長，第二時刻可以是指在目標(biāo)點位隨極片膜卷移動而經(jīng)過第一檢測位置，到達(dá)第二檢測位置或在第二檢測位置的極片膜卷的寬度方向上的時刻，此時可將第二檢測位置與目標(biāo)長邊之間的第二距離等于第一距離，使得第二檢測位置與目標(biāo)點位重合，對第二檢測位置的目標(biāo)點位進(jìn)行檢測得到第二厚度，以分別在第一時刻和第二時刻分別針對極片膜卷的同一個點位進(jìn)行厚度檢測，得到該第一厚度和該第二厚度，基于第一厚度和第二厚度進(jìn)行相應(yīng)處理確定目標(biāo)點位的涂層厚度，實現(xiàn)涂層厚度檢測?；谏鲜龇绞剑軌蛟跇O片膜卷的目標(biāo)點位抵達(dá)第二檢測位置或在第二檢測位置的極片膜卷的寬度方向上時，也即在第二時刻時，通過使得第二檢測位置與目標(biāo)長邊之間的距離，相等于第一時刻時的第一檢測位置與目標(biāo)長邊之間的距離，使得第二檢測位置與目標(biāo)點位重合，降低因極片膜卷在移動時因出現(xiàn)寬度方向上的偏移，而導(dǎo)致第二檢測位置的實際檢測點位與目標(biāo)點位發(fā)生偏差的可能性，進(jìn)而降低了因第二檢測位置的實際檢測點位與目標(biāo)點位發(fā)生偏差而使得涂層厚度檢測的結(jié)果失真的可能性，提高了涂層厚度檢測的準(zhǔn)確性。

6、在一些實施例中，初始時刻為，極片膜卷開始進(jìn)行移動的時刻；涂層厚度檢測方法還包括：響應(yīng)于第一時刻為初始時刻，則在第二時刻之前，控制第二距離持續(xù)保持為第一距離。

7、本技術(shù)實施例的技術(shù)方案中，在第一時刻為初始時刻時，在第二時刻之前，極片膜卷的目標(biāo)點位尚未移動至第二檢測位置或第二檢測位置的極片膜卷的寬度方向上，此時，可控制第二檢測位置與目標(biāo)長邊之間的距離持續(xù)保持為，第一時刻下的第一檢測位置與目標(biāo)長邊之間的距離?；谏鲜龇绞?，能夠在目標(biāo)點位移動至第二檢測位置所在的極片膜卷的寬度方向上的界線時，能夠立刻與第二檢測位置進(jìn)行重合，以降低出現(xiàn)因極片膜卷的移動速度過快而導(dǎo)致第二檢測位置無法與目標(biāo)點位重合以進(jìn)行第二厚度檢測的可能性，提高了涂層厚度檢測的可靠性。

8、在一些實施例中，在第一時刻，獲取位于第一檢測位置的目標(biāo)點位與目標(biāo)長邊之間的第一距離，并且，檢測位于第一檢測位置的目標(biāo)點位的第一厚度，包括：響應(yīng)于第一時刻為初始時刻，則在第一時刻，控制第一檢測位置進(jìn)行復(fù)位，使得第一檢測位置移動至復(fù)位位置，并且，檢測位于復(fù)位位置的目標(biāo)點位的第一厚度；其中，復(fù)位位置與目標(biāo)長邊之間的距離為復(fù)位距離；涂層厚度檢測方法還包括：響應(yīng)于第一時刻為初始時刻，則在第二時刻之前，控制第二距離持續(xù)保持為復(fù)位距離。

9、本技術(shù)實施例的技術(shù)方案中，在第一時刻為初始時刻時，可控制第一檢測位置移動至復(fù)位位置，并將此時的極片膜卷上位于復(fù)位位置處的點位作為目標(biāo)點位，檢測得到第一距離和第一厚度，而在第二時刻之前，極片膜卷的目標(biāo)點位尚未移動至第二檢測位置或第二檢測位置的極片膜卷的寬度方向上，此時，可控制第二檢測位置與目標(biāo)長邊之間的距離持續(xù)保持為，第一時刻下的第一檢測位置與目標(biāo)長邊之間的復(fù)位距離?；谏鲜龇绞?，能夠在目標(biāo)點位移動至第二檢測位置所在的極片膜卷的寬度方向上的界線時，能夠立刻與第二檢測位置進(jìn)行重合，以降低出現(xiàn)因極片膜卷的移動速度過快而導(dǎo)致第二檢測位置無法與目標(biāo)點位重合以進(jìn)行第二厚度檢測的可能性，提高了涂層厚度檢測的可靠性。

10、在一些實施例中，預(yù)設(shè)時長為，第一檢測位置與第二檢測位置在沿目標(biāo)長邊的延伸方向上的距離，除以極片膜卷相對于第一檢測位置或第二檢測位置的移動速度，得到的商值。

11、本技術(shù)實施例的技術(shù)方案中，通過將第一檢測位置與第二檢測位置在沿目標(biāo)長邊的延伸方向上的距離，除以極片膜卷相對于第一檢測位置或第二檢測位置的移動速度，能夠確定極片膜卷的目標(biāo)點位從第一檢測位置移動至第二檢測位置所需的時長，通過將該時長作為預(yù)設(shè)時長，以確定第一時刻和第二時刻，能夠提高所得到的第一厚度與第二厚度正確對應(yīng)的可能性，提高了涂層厚度檢測方法的可靠性。

12、在一些實施例中，基于第一厚度和第二厚度，確定目標(biāo)點位的涂層厚度，包括：將第二厚度減去第一厚度，得到目標(biāo)點位的涂層厚度。

13、本技術(shù)實施例的技術(shù)方案中，通過將涂布后區(qū)域的目標(biāo)點位對應(yīng)檢測得到的第二厚度，減去涂布前區(qū)域的目標(biāo)點位對應(yīng)檢測得到的第一厚度，能夠得到目標(biāo)點位的涂層厚度，實現(xiàn)對極片膜卷的目標(biāo)點位的涂層厚度檢測。

14、在一些實施例中，極片膜卷的寬度方向與目標(biāo)長邊的延伸方向垂直；第一檢測位置沿寬度方向和/或?qū)挾确较虻姆捶较蜻M(jìn)行運(yùn)動。

15、本技術(shù)實施例的技術(shù)方案中，通過在極片膜卷進(jìn)行移動的同時，使得第一檢測位置沿極片膜卷的寬度方向或極片膜卷的寬度方向的反方向保持運(yùn)動，能夠使實現(xiàn)對極片膜卷在寬度方向上的多種第一距離下的點位的涂層厚度檢測，從而實現(xiàn)對極片膜卷上多種第一距離下的點位的檢測，提高了涂層厚度檢測的覆蓋范圍，提高了涂層厚度檢測的可靠性。

16、在一些實施例中，檢測位于第一檢測位置的目標(biāo)點位的第一厚度，包括：在第一檢測位置進(jìn)行激光測距得到第一測量距離，并且，將第一預(yù)設(shè)最大測量距離減去第一測量距離得到第一厚度；檢測位于第二檢測位置的目標(biāo)點位的第二厚度，包括：在第二檢測位置進(jìn)行激光測距得到第二測量距離，并且，將第二預(yù)設(shè)最大測量距離減去第二測量距離得到第二厚度。

17、本技術(shù)實施例的技術(shù)方案中，通過激光測距的方式得到第一測量距離和第二測量距離，并基于第一預(yù)設(shè)最大測量距離和第一測量距離確定極片膜卷的目標(biāo)點位的涂布前的厚度，以及基于第二預(yù)設(shè)最大測量距離和第二測量距離確定極片膜卷的目標(biāo)點位的涂布后的厚度，從而基于目標(biāo)點位涂布前的厚度和涂布后的厚度相減得到的厚度差值，確定目標(biāo)點位的涂層厚度，提高了涂層厚度檢測的準(zhǔn)確性。

18、第二方面，本技術(shù)提供了一種涂布裝置，具有間隔設(shè)置的第一檢測位置和第二檢測位置，第一檢測位置位于極片膜卷的涂布前區(qū)域，第二檢測位置位于極片膜卷的涂布后區(qū)域；涂布裝置包括：移動單元，用于控制極片膜卷進(jìn)行移動，依次經(jīng)過第一檢測位置和第二檢測位置；涂布單元，用于對極片膜卷進(jìn)行涂層的涂布；檢測單元，用于：獲取位于第一檢測位置的極片膜卷的目標(biāo)點位與極片膜卷的目標(biāo)長邊之間的第一距離，并且，檢測位于第一檢測位置的目標(biāo)點位的第一厚度；控制位于第二檢測位置與目標(biāo)長邊之間的第二距離為第一距離，并且，檢測位于第二檢測位置的目標(biāo)點位的第二厚度；基于第一厚度和第二厚度，確定目標(biāo)點位的涂層厚度。

19、第三方面，本技術(shù)提供了一種檢測設(shè)備，包括：存儲器和處理器；存儲器用于存儲程序指令，處理器用于執(zhí)行程序指令以實現(xiàn)上述方法。

20、第四方面，本技術(shù)提供了一種計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)存儲有程序指令，程序指令被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)上述方法。

21、可以理解的是，上述第二方面、第三方面和第四方面的有益效果可以參見上述第一方面中的相關(guān)描述，在此不再贅述。

22、上述說明僅是本技術(shù)技術(shù)方案的概述，為了能夠更清楚了解本技術(shù)的技術(shù)手段，而可依照說明書的內(nèi)容予以實施，并且為了讓本技術(shù)的上述和其它目的、特征和優(yōu)點能夠更明顯易懂，以下特舉本技術(shù)的具體實施方式。