1.一種測試向量生成方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測試向量生成方法，其特征在于，根據(jù)待測試芯片基于測試協(xié)議測試時需要執(zhí)行的基本任務，創(chuàng)建多個基礎(chǔ)指令模板，每個所述基礎(chǔ)指令模板執(zhí)行一項指令任務，多個不同基礎(chǔ)指令模板組合以實現(xiàn)芯片不同測試功能。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種測試向量生成方法，其特征在于，所述基礎(chǔ)指令模板至少包括對dp端口的寫指令，對dp端口的讀指令，對ap端口的寫指令，對ap端口的讀指令。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種測試向量生成方法，其特征在于，所述基礎(chǔ)指令模板包括對ahb總線上ap端口的寫指令、對ahb總線上ap端口的讀指令；以及對ahb總線上dp端口的寫指令、對ahb總線上dp端口的讀指令；
5.根據(jù)權(quán)利要求3或4任一所述的一種測試向量生成方法，其特征在于，基于功能測試指令包含的任務內(nèi)容，選擇對應的基礎(chǔ)指令模板，并依據(jù)所述基礎(chǔ)指令模板將所述功能測試指令轉(zhuǎn)換為對芯片上ap端口和dp端口的讀寫指令；
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種測試向量生成方法，其特征在于，依據(jù)基礎(chǔ)指令模板執(zhí)行的指令任務，賦值所述指令寄存器數(shù)值；
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種測試向量生成方法，其特征在于，所述jtag測試驅(qū)動函數(shù)輸入tms數(shù)值，控制狀態(tài)機依次進入ir寄存器掃描狀態(tài)，capture-ir狀態(tài)以及shift-ir狀態(tài)，并通過輸入的tms數(shù)值以及tck時鐘信號共同操作ir寄存器，shift-ir狀態(tài)下，將賦值的指令寄存器數(shù)值，從低位開始按照tdi數(shù)據(jù)序列格式，逐位進行填充以輸出tdi數(shù)據(jù)，得到tdi數(shù)據(jù)、tms信號、tck信號及tdo信號在不同時刻下的組合。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種測試向量生成方法，其特征在于，所述指令模板將所述功能測試指令中期望讀取的數(shù)據(jù)加上尾部標識符輸出為tdo數(shù)據(jù)，所述jtag測試驅(qū)動函數(shù)將所述指令模板生成的tdo數(shù)據(jù)簡單填充后輸出。
9.根據(jù)權(quán)利要求6所述的一種測試向量生成方法，其特征在于，所述基礎(chǔ)指令模板用于執(zhí)行訪問dp端口任務時，所述指令寄存器賦值0b1010；所述基礎(chǔ)指令模板用于執(zhí)行訪問ap端口任務時，所述指令寄存器賦值0b1011；
10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測試向量生成方法，其特征在于，所述芯片測試電路的數(shù)據(jù)傳輸協(xié)議包括amba總線協(xié)議，dap調(diào)試器基于amba總線協(xié)議訪問芯片上的系統(tǒng)資源。
11.一種測試向量生成系統(tǒng)，其特征在于，包括：
12.一種計算機可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)權(quán)利要求1至權(quán)利要求10中任一項所述的測試向量生成方法的步驟。