技術編號：42300927
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明屬于芯片測試的，尤其涉及一種測試向量生成方法、系統(tǒng)及計算機可讀存儲介質。背景技術、芯片在ate(automatic?test?equipment，自動測試設備)上做功能測試時需要有對應的function?pattern（功能測試向量）。通常情況下的做法是由驗證部門開發(fā)測試平臺（testbench）及測試用例后仿真得到波形文件（如value?change?dump文件，又稱vcd文件是一種標準波形文件），再將仿真生成的波形文件轉換成wgl文件（wgl：wave?generationlang...
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