1.一種用于校準成批光譜儀裝置(112)中的光譜儀裝置(112)的方法，其中，該光譜儀裝置(112)包括至少一個檢測器裝置(114)，該至少一個檢測器裝置包括被配置用于將入射光(118)分離成具有組成波長分量(120)的光譜的至少一個光學元件(116)并且進一步包括多個光敏元件(124)，其中，每個光敏元件(124)被配置用于接收這些組成波長分量(120)之一的至少一部分并用于根據(jù)由相應(yīng)組成波長分量(120)的至少一部分對相應(yīng)光敏元件(124)的照射情況來生成相應(yīng)的檢測器信號，其中，該方法包括以下步驟：
2.根據(jù)前一項權(quán)利要求所述的方法，其中，該預定義目標成批分辨率值aλ,target被選擇為使得針對該光譜儀裝置(112)的相應(yīng)波長的轉(zhuǎn)換分辨率aλ,conv滿足aλ,conv≤aλ,target。
3.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其中，將該線擴散函數(shù)的相應(yīng)分辨率aλ,meas轉(zhuǎn)換為預定義目標分辨率包括將測得的光譜與寬度由二次減法描述的至少一個核進行卷積。
4.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其中，該系統(tǒng)表征步驟包括：
5.根據(jù)前一項權(quán)利要求所述的方法，其中，在步驟a1)中，該光學干涉儀(130)的主頻率在預先確定的光譜范圍內(nèi)變化，并且其中，在步驟a2)中，該多個檢測器信號是根據(jù)該光學干涉儀(130)的主頻率來確定的，其中，在步驟a3)中，該線擴散函數(shù)是通過將該光學干涉儀(130)的主頻率與該多個光敏元件(124)的生成該多個檢測器信號中的與該主頻率相關(guān)聯(lián)的強度峰值的像素位置和標識號中的至少一者進行比較來確定的。
6.根據(jù)前兩項權(quán)利要求中任一項所述的方法，其中，該光學干涉儀(130)包括用于將入射光分成至少兩個照射路徑的至少一個分束裝置，其中，該光學干涉儀(130)進一步包括在第一照射路徑上的至少一個掃描反射鏡和在第二照射路徑上的至少一個靜止反射鏡，其中，在該方法中，該掃描反射鏡沿該第一照射路徑移動，其中，該靜止反射鏡保持靜止，其中，在步驟a2)中，該多個檢測器信號是針對該掃描反射鏡在該第一照射路徑上的多個位置來確定的，其中，該掃描反射鏡的該多個位置彼此不同，其中，步驟a3)包括將該多個檢測器信號與該掃描反射鏡的該多個位置進行關(guān)聯(lián)，其中，在步驟a3)中，將該多個檢測器信號與該掃描反射鏡的該多個位置進行關(guān)聯(lián)是用于確定該線擴散函數(shù)。
7.根據(jù)前三項權(quán)利要求中任一項所述的方法，其中，步驟a3)包括處理在該步驟a2)中確定的該多個檢測器信號，從而獲得多個經(jīng)處理的檢測器信號，其中，在步驟a3)中確定該線擴散函數(shù)包括根據(jù)該多個經(jīng)處理的檢測器信號來確定該線擴散函數(shù)，其中，處理該多個檢測器信號包括對該多個檢測器信號進行變換，其中，通過使用至少一種傅立葉變換來對該多個檢測器信號進行變換。
8.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其中，該系統(tǒng)表征步驟包括：
9.根據(jù)前一項權(quán)利要求所述的方法，其中，步驟aii)包括通過使用理論線擴散函數(shù)進行核卷積來展寬這些單色光源(134)的已知光譜，其中，步驟aii)包括調(diào)整理論核的參數(shù)，直至這些單色光源(134)的經(jīng)展寬的光譜與測得的光譜相匹配，其中，經(jīng)調(diào)整的這些核參數(shù)用于近似該波長下的線擴散函數(shù)。
10.根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項所述的方法，其中，該系統(tǒng)表征步驟包括：
11.根據(jù)前一項權(quán)利要求所述的方法，其中，步驟ab)包括通過使用理論線擴散函數(shù)進行核卷積來展寬該參考物體(132)的已知光譜，其中，步驟ab)包括調(diào)整理論核的參數(shù)，直至該參考物體(132)的經(jīng)展寬的光譜與測得的光譜相匹配，其中，經(jīng)調(diào)整的這些核參數(shù)用于近似該波長下的線擴散函數(shù)。
12.根據(jù)前兩項權(quán)利要求中任一項所述的方法，其中，步驟ab)包括將該參考物體(132)的已知光譜與通過使用該光譜儀裝置(112)在信號空間中測得的光譜進行直接比較和/或?qū)⒃搮⒖嘉矬w(132)的已知光譜的至少一個導數(shù)與通過使用該光譜儀裝置(112)測得的光譜的至少一個導數(shù)進行比較、具體地為比較這些光譜的一階導數(shù)、二階導數(shù)和/或更高階導數(shù)。
13.一種用于校準成批光譜儀裝置(112)中的光譜儀裝置(112)的系統(tǒng)(110)，其中，該系統(tǒng)(110)包括該光譜儀裝置(112)，該光譜儀裝置包括至少一個檢測器裝置(114)，其中，該檢測器裝置(114)包括被配置用于將入射光(118)分離成具有組成波長分量(120)的光譜的至少一個光學元件(116)并且進一步包括多個光敏元件(124)，其中，每個光敏元件(124)被配置用于接收這些組成波長分量(120)之一的至少一部分并用于根據(jù)由相應(yīng)組成波長分量(120)的至少一部分對相應(yīng)光敏元件(124)的照射情況來生成相應(yīng)的檢測器信號，其中，該系統(tǒng)(110)進一步包括至少一個評估單元(142)，其中，該評估單元(142)被配置用于執(zhí)行根據(jù)前述權(quán)利要求中任一項所述的用于校準成批光譜儀裝置(112)中的光譜儀裝置(112)的方法。
14.一種包括指令的計算機程序，當該程序由根據(jù)前述涉及系統(tǒng)(110)的權(quán)利要求中任一項所述的系統(tǒng)(110)執(zhí)行時，這些指令使得該系統(tǒng)(110)的評估單元(142)執(zhí)行根據(jù)前述涉及方法的權(quán)利要求中任一項所述的用于校準成批光譜儀裝置(112)中的光譜儀裝置(112)的方法。
15.一種包括指令的計算機可讀存儲介質(zhì)、具體地非暫態(tài)計算機可讀存儲介質(zhì)，當這些指令由根據(jù)前述涉及系統(tǒng)(110)的權(quán)利要求中任一項所述的系統(tǒng)(110)執(zhí)行時，這些指令使得該系統(tǒng)(110)的評估單元(142)執(zhí)行根據(jù)前述涉及方法的權(quán)利要求中任一項所述的用于校準成批光譜儀裝置(112)中的光譜儀裝置(112)的方法。