技術(shù)編號(hào):42300989
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及電壓閃變監(jiān)測(cè),尤其涉及一種配變終端的電壓閃變監(jiān)測(cè)方法、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。背景技術(shù)、iec--是國(guó)際電工委員會(huì)發(fā)布的關(guān)于電磁兼容性的標(biāo)準(zhǔn)之一。電磁兼容性(emc)第-部分:試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)閃變計(jì)功能和設(shè)計(jì)規(guī)范標(biāo)準(zhǔn),規(guī)定了用于測(cè)量電壓質(zhì)量中短時(shí)閃變(pst)和長(zhǎng)時(shí)閃變(plt)的設(shè)備和方法,短時(shí)閃變使用公式pst?=?[(∑(δvi)2?/?t)?/?(?×?vmp)3]^(/)進(jìn)行計(jì)算,δvi是電壓變化量,t是測(cè)量時(shí)間窗口(標(biāo)準(zhǔn)通常為分鐘),vmp是測(cè)量期...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。