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集成深溝槽隔離結(jié)構(gòu)的器件及其制備方法與流程

文檔序號(hào):42887651發(fā)布日期:2025-08-29 19:35閱讀:11來源:國知局

本申請(qǐng)涉及半導(dǎo)體,特別涉及一種集成深溝槽隔離結(jié)構(gòu)的器件及其制備方法。


背景技術(shù):

1、深溝槽隔離(deep?trench?isolation,dti)是半導(dǎo)體器件中的一種關(guān)鍵的三維隔離結(jié)構(gòu),其核心作用是實(shí)現(xiàn)器件間的電學(xué)隔離,尤其適用于高壓、高密度、抗干擾需求強(qiáng)的器件結(jié)構(gòu)。現(xiàn)有的深溝槽隔離集成工序主要是在制備淺溝槽隔離(shallow?trenchisolation,sti)前后,制備步驟繁多,增加工藝復(fù)雜度和制備成本。


技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路

1、為解決上述技術(shù)問題,本申請(qǐng)于一方面公開了一種集成深溝槽隔離結(jié)構(gòu)的器件制備方法,其包括:

2、提供半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),所述半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)包括基底、層疊于基底表面的柵極材料層和層疊于所述柵極材料層的掩膜層,所述基底中形成有半導(dǎo)體器件的功能元件;

3、于所述半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)中形成深溝槽,所述深溝槽貫穿所述掩膜層、所述柵極材料層并深入所述基底;

4、對(duì)所述深溝槽進(jìn)行填充,形成深溝槽隔離結(jié)構(gòu),所述深溝槽隔離結(jié)構(gòu)包括填充結(jié)構(gòu),所述填充結(jié)構(gòu)不高于所述基底表面;

5、圖案化刻蝕所述柵極材料層,形成柵極結(jié)構(gòu);

6、去除所述掩膜層。

7、可能的實(shí)施方式中,所述去除所述掩膜層之后,所述制備方法還包括:

8、形成層疊于所述基底表面和所述深溝槽隔離結(jié)構(gòu)表面,并覆蓋所述柵極結(jié)構(gòu)的隔離層;

9、于所述隔離層上形成層間介質(zhì)層,并基于所述層間介質(zhì)層形成金屬互連層。

10、可能的實(shí)施方式中,所述基于所述層間介質(zhì)層形成金屬互連層包括:

11、于所述層間介質(zhì)層中形成貫穿所述層間介質(zhì)層和所述隔離層的多個(gè)接觸孔,所述多個(gè)接觸孔分別延伸至所述深溝槽隔離結(jié)構(gòu)和所述柵極結(jié)構(gòu);

12、于所述多個(gè)接觸孔中填充導(dǎo)電材料,形成多個(gè)接觸插塞結(jié)構(gòu);

13、于所述層間介質(zhì)層上方形成與所述接觸插塞結(jié)構(gòu)接觸的第一金屬層,所述多個(gè)接觸插塞結(jié)構(gòu)電性連接所述深溝槽隔離結(jié)構(gòu)與所述第一金屬層,以及電性連接所述柵極結(jié)構(gòu)和所述第一金屬層。

14、可能的實(shí)施方式中,所述基底中形成有淺溝槽隔離結(jié)構(gòu),所述深溝槽位于所述淺溝槽隔離結(jié)構(gòu)處且縱向貫穿所述淺溝槽隔離結(jié)構(gòu)。

15、可能的實(shí)施方式中,所述基底中具有位于所述淺溝槽隔離結(jié)構(gòu)下方的摻雜埋層,所述深溝槽的槽底低于所述摻雜埋層,所述深溝槽和所述摻雜埋層用于隔離相鄰器件模塊。

16、可能的實(shí)施方式中,所述于所述半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)中形成深溝槽包括:

17、形成層疊于所述柵極材料層的第一遮蔽層;

18、對(duì)所述第一遮蔽層進(jìn)行圖案化處理,以暴露所述深溝槽對(duì)應(yīng)的掩膜層區(qū)域;

19、刻蝕暴露的掩膜層區(qū)域、暴露的柵極材料層區(qū)域和暴露的基底區(qū)域,形成所述深溝槽。

20、可能的實(shí)施方式中,所述對(duì)所述深溝槽進(jìn)行填充,形成深溝槽隔離結(jié)構(gòu)包括:

21、形成覆蓋所述深溝槽槽壁并層疊于所述掩膜層上的隔離氧化層;

22、回刻所述隔離氧化層以暴露所述深溝槽的槽底;

23、于所述深溝槽的槽底底部形成摻雜區(qū);

24、淀積可導(dǎo)電的非金屬材料以得到填充所述深溝槽的填充結(jié)構(gòu),形成所述深溝槽隔離結(jié)構(gòu)。

25、可能的實(shí)施方式中,所述淀積可導(dǎo)電的非金屬材料以得到填充所述深溝槽的填充結(jié)構(gòu),形成所述深溝槽隔離結(jié)構(gòu)包括:

26、淀積可導(dǎo)電的非金屬材料,形成填充所述深溝槽并層疊于所述隔離氧化層上的填充材料層;

27、去除所述掩膜層上的填充材料層區(qū)域和隔離氧化層區(qū)域;

28、回刻深溝槽中的填充材料層區(qū)域和隔離氧化層區(qū)域,至殘留的填充材料層和殘留的隔離氧化層不高于所述基底表面,形成包括所述填充結(jié)構(gòu)的所述深溝槽隔離結(jié)構(gòu)。

29、可能的實(shí)施方式中,可導(dǎo)電的非金屬材料為柵極材料。

30、可能的實(shí)施方式中,所述圖案化刻蝕所述柵極材料層,形成柵極結(jié)構(gòu)包括:

31、形成第二遮蔽層,所述第二遮蔽層遮蔽所述深溝槽隔離結(jié)構(gòu)表面和所述柵極結(jié)構(gòu)對(duì)應(yīng)的掩膜層區(qū)域;

32、刻蝕所述掩膜層,以去除所述第二遮蔽層未遮蔽的掩膜層區(qū)域;

33、刻蝕所述基底表面暴露的柵極材料層區(qū)域,并去除所述第二遮蔽層,形成所述柵極結(jié)構(gòu)。

34、本申請(qǐng)于另一方面還公開了一種集成深溝槽隔離結(jié)構(gòu)的器件,包括:

35、基底,形成有半導(dǎo)體器件的功能元件;

36、深溝槽,位于所述基底中;

37、深溝槽隔離結(jié)構(gòu),填充于所述深溝槽,包括填充結(jié)構(gòu),所述填充結(jié)構(gòu)不高于所述基底表面,所述填充結(jié)構(gòu)的材料為可導(dǎo)電的非金屬材料;

38、柵極結(jié)構(gòu),位于所述基底表面。

39、本申請(qǐng)于另一方面還公開了一種集成電路,所述集成電路包括上述的集成深溝槽隔離結(jié)構(gòu)的器件。

40、本申請(qǐng)于另一方面還公開了一種電子裝置,其包括上述的集成深溝槽隔離結(jié)構(gòu)的器件。

41、基于上述技術(shù)方案,本申請(qǐng)具有以下有益效果:

42、本申請(qǐng)的技術(shù)方案在基底上形成柵極材料層和層疊于所述柵極材料層的掩膜層后,進(jìn)行深溝槽刻蝕和可導(dǎo)電的非金屬材料填充,然后圖案化刻蝕柵極材料層,形成柵極結(jié)構(gòu),從而以掩膜層作為深溝槽刻蝕和柵極結(jié)構(gòu)制備的阻擋層,不僅將深溝槽隔離結(jié)構(gòu)的制備工序整合至bcd等器件的柵極結(jié)構(gòu)制備的標(biāo)準(zhǔn)工藝中,而且無需額外引入深溝槽隔離結(jié)構(gòu)制備所需的掩膜工序,簡化深溝槽隔離的集成工藝并降低制備成本。并且,將深溝槽隔離結(jié)構(gòu)集成至前段制程(front-end-of-line,?feol)中,能夠利用前段制程的已有的刻蝕和材料填充工藝進(jìn)行深溝槽隔離結(jié)構(gòu)的制備,無需更換機(jī)臺(tái)或額外引入其它工藝。同時(shí),深溝槽隔離結(jié)構(gòu)基于可導(dǎo)電的非金屬材料填充制備,與基底的熱膨脹系數(shù)相似,降低加熱工藝導(dǎo)致的熱膨脹變形和器件損傷風(fēng)險(xiǎn)。



技術(shù)特征:

1.一種集成深溝槽隔離結(jié)構(gòu)的器件制備方法,其特征在于,包括:

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述去除所述掩膜層之后,所述制備方法還包括:

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的制備方法,其特征在于,所述基于所述層間介質(zhì)層形成金屬互連層包括:

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述基底中形成有淺溝槽隔離結(jié)構(gòu),所述深溝槽位于所述淺溝槽隔離結(jié)構(gòu)處且縱向貫穿所述淺溝槽隔離結(jié)構(gòu)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的制備方法,其特征在于,所述基底中具有位于所述淺溝槽隔離結(jié)構(gòu)下方的摻雜埋層,所述深溝槽的槽底低于所述摻雜埋層,所述深溝槽和所述摻雜埋層用于隔離相鄰器件模塊。

6.根據(jù)權(quán)利要求1-5中任一項(xiàng)所述的制備方法,其特征在于,所述于所述半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)中形成深溝槽包括:

7.根據(jù)權(quán)利要求1-5中任一項(xiàng)所述的制備方法,其特征在于,所述對(duì)所述深溝槽進(jìn)行填充,形成深溝槽隔離結(jié)構(gòu)包括:

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的制備方法,其特征在于,所述淀積可導(dǎo)電的非金屬材料以得到填充所述深溝槽的填充結(jié)構(gòu),形成所述深溝槽隔離結(jié)構(gòu)包括:

9.根據(jù)權(quán)利要求1-5中任一項(xiàng)所述的制備方法,其特征在于,所述圖案化刻蝕所述柵極材料層,形成柵極結(jié)構(gòu)包括:

10.一種集成深溝槽隔離結(jié)構(gòu)的器件,其特征在于,包括:


技術(shù)總結(jié)
本申請(qǐng)涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種集成深溝槽隔離結(jié)構(gòu)的器件及其制備方法;制備方法可以包括:提供半導(dǎo)體結(jié)構(gòu),半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)包括基底、層疊于基底表面的柵極材料層和層疊于柵極材料層的掩膜層,基底中形成有半導(dǎo)體器件的功能元件;于半導(dǎo)體結(jié)構(gòu)中形成深溝槽,深溝槽貫穿掩膜層、柵極材料層并深入基底;對(duì)深溝槽進(jìn)行填充,形成深溝槽隔離結(jié)構(gòu),深溝槽隔離結(jié)構(gòu)包括填充結(jié)構(gòu),填充結(jié)構(gòu)不高于基底表面,填充結(jié)構(gòu)的材料為可導(dǎo)電的非金屬材料;圖案化刻蝕柵極材料層,形成柵極結(jié)構(gòu);去除掩膜層。本申請(qǐng)能夠?qū)⑸顪喜鄹綦x結(jié)構(gòu)的制備工序整合至BCD等器件的柵極結(jié)構(gòu)制備的標(biāo)準(zhǔn)工藝中,簡化深溝槽隔離的集成工藝并降低制備成本。

技術(shù)研發(fā)人員:田斌偉
受保護(hù)的技術(shù)使用者:杭州富芯半導(dǎo)體有限公司
技術(shù)研發(fā)日:
技術(shù)公布日:2025/8/28
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