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本發(fā)明涉及一種磁阻式隨機存取存儲器，尤其涉及一種能避免源極退化以提高寫入速度和降低寫入電壓的自旋轉(zhuǎn)移矩磁阻式隨機存取存儲器。、相較于以傳統(tǒng)的電荷來存儲位信息的存儲器，磁阻式隨機存取存儲器(magnetoresistive?random-access?memory，mram)以磁性阻抗效果來...

本申請的所公開實施例涉及存儲，且更具體而言，涉及一種錘擊預防電路及具有其的存儲器。、在存儲器電路中，存儲陣列由若干行存儲電容陣列構(gòu)成。當頻繁讀取某行的存儲單元時，則在信號耦合下，相鄰若干行的存儲電容單元的值可能被改寫，該現(xiàn)象為行錘擊。、為了防止行錘擊現(xiàn)象造成存儲內(nèi)容被改寫，通常會對可能發(fā)生...

本發(fā)明涉及硬盤驅(qū)動器，特別是涉及一種光源單元、熱輔助磁頭、磁頭折片組合和硬盤驅(qū)動器。、硬盤驅(qū)動器(hard?disk?drive，hdd)用于向磁盤寫入數(shù)據(jù)或從磁盤讀取數(shù)據(jù)。如圖所示，通常，硬盤驅(qū)動器包括連接到主軸電動機的多個可旋轉(zhuǎn)磁盤、驅(qū)動臂和安裝在驅(qū)動臂的端部的磁頭折片組合(head?...

本公開涉及集成電路和微電子器件，具體地，涉及一種新型無電容動態(tài)隨機存儲裝置。、動態(tài)隨機存儲裝置(dram)是一種易失性的、基于電容的、破壞性讀取形式的存儲器。自從上世紀年代發(fā)明至今，dram經(jīng)過了數(shù)十年的發(fā)展，目前占據(jù)了超過五成的存儲器市場規(guī)模，占有舉足輕重的位置。、長期以來，dram單元...

、本公開涉及一種存儲器裝置、存儲器系統(tǒng)以及采用存儲器裝置進行數(shù)據(jù)計算的方法。、生成式人工智能(ai)推理涉及ai計算。例如，變換器模型通常使用張量處理單元(tpu)和存儲器進行計算。大的變換器模型需要大量的數(shù)據(jù)和計算，這需要高功耗和足夠的內(nèi)存。當內(nèi)存的存取速度滯后于處理器的計算速度時，內(nèi)存...

本申請涉及dram修復，尤其涉及一種dram的修復方法、上位機、存儲介質(zhì)及計算機程序產(chǎn)品。、目前，dram測試程序通常存儲在設備主板上的非易失性存儲器(如flash、eeprom或硬盤)中。系統(tǒng)啟動后，將測試程序加載到dram中運行，以完成對dram的測試與修復。、然而，這種方法存在兩個主...

本發(fā)明涉及存儲器，尤其涉及一種靜態(tài)隨機存儲器。、oled微顯示技術憑借其自發(fā)光特性、亞毫米級像素密度、超寬色域、微秒級響應速度及低功耗等優(yōu)勢，已成為vr/ar等功耗敏感型可穿戴設備的首選顯示方案。然而，在向k/k分辨率、hz以上刷新率演進的過程中，時序控制器需集成更大容量的幀緩存器，以支持...

本公開實施例涉及半導體，尤其涉及一種存儲器裝置及其控制方法，以及一種存儲器系統(tǒng)及其控制方法。、存儲器裝置是現(xiàn)代信息技術中用于保存信息的存儲設備。作為一種典型的非易失性半導體存儲器，nand(not-and，與非型)型存儲器由于具有較高的存儲密度、可控的生產(chǎn)成本、合適的編擦速度及保持特性，逐...

本申請實施例涉及半導體領域，特別涉及一種存儲器。、存儲器通過字線和位線控制數(shù)據(jù)的讀取、寫入以及刷新。在進行數(shù)據(jù)讀取的過程中，感測放大器需要基于目標位線和互補位線的電壓差對讀取出來的數(shù)據(jù)進行放大，進而有效獲取存儲于存儲單元中的數(shù)據(jù)；其中，目標位線指的是與被激活字線對應的存儲單元連接的位線。、...

本公開的多種實施例總體涉及一種數(shù)據(jù)存儲裝置和數(shù)據(jù)存儲裝置的操作方法，更具體地，涉及一種具有改進的寫入操作性能的數(shù)據(jù)存儲裝置和數(shù)據(jù)存儲裝置的操作方法。、數(shù)據(jù)存儲裝置可以包括存儲數(shù)據(jù)的存儲器裝置和控制存儲器裝置的控制器。存儲器裝置可以是易失性存儲器裝置或非易失性存儲器裝置。易失性存儲器裝置在供...

本申請涉及自動化檢測，尤其涉及硬盤檢測設備。、硬盤在出廠之前需要進行檢測，可通過檢測篩選出不合格產(chǎn)品，以保證出廠產(chǎn)品的性能滿足要求。、目前，可以通過人工將裝有硬盤的托盤運送到測試柜處，然后通過人工將硬盤從托盤中取出、并放入測試柜內(nèi)進行檢測。在相關技術中，硬盤檢測人力耗費較大，效率較低。技術...

本申請涉及數(shù)據(jù)存儲，尤其涉及一種存儲設備的性能測試方法及裝置、電子設備和存儲介質(zhì)。、在相關技術中，硬盤（hard?disk?drive，hdd）或固態(tài)硬盤（solid?state?drive，ssd）作為駐留的存儲介質(zhì)被廣泛應用于各類系統(tǒng)中。對于數(shù)據(jù)秘籍類的應用場景，比如大語言模型訓練、大...

本技術涉及內(nèi)存芯片模組，更具體的說，涉及一種基于壓縮存儲硬盤模組的測試結(jié)構(gòu)。、微型壓縮存儲硬盤模組(m?i?n?i-compress?i?on?storage?d?i?sk?modu?l?e，簡稱mcsdm)，標準壓縮存儲硬盤模組(compress?i?on?storage?d?i?sk?...

本申請涉及錄音設備，具體涉及一種藍牙麥克風。、筆記本電腦簡稱筆記本，又稱“便攜式電腦，手提電腦、掌上電腦或膝上型電腦”，特點是機身小巧，比臺式機攜帶方便，是一種小型、便于攜帶的個人電腦。、現(xiàn)有技術公開了一種筆記本電腦內(nèi)置式麥克風裝置，包括麥克風本體和橡膠體，所述橡膠體具有容置所述麥克風本體...

本技術涉及內(nèi)存芯片模組，更具體的說，涉及一種基于微型壓縮固態(tài)存儲硬盤模組的組裝結(jié)構(gòu)。、常見的模組三種連接組裝方式有嵌入式焊接、連接器插槽和板對板針連接。、.嵌入式焊接：是指通過焊接的方式組裝到設備上，比如emmc和ufs，優(yōu)點是小巧輕便，缺點是不方便升級更換；、.連接器插槽是通過彈片連接器...

本技術涉及芯片測試設備，更具體的說，涉及一種內(nèi)存模組測試裝置。、內(nèi)存模組測試裝置是一種專門用于測試和驗證內(nèi)存模塊(如ddr、sdram等)性能和可靠性的設備。它主要用于制造、研發(fā)和質(zhì)量控制等環(huán)節(jié)，確保內(nèi)存模塊在各種條件下的穩(wěn)定性和性能。傳統(tǒng)的內(nèi)存模組測試裝置在測試過程中，無法確定內(nèi)存模組是...

在本文描述的本公開的實施例涉及半導體裝置，并且更具體地，涉及一種半導體存儲器裝置。、半導體存儲器裝置可分為易失性存儲器裝置或非易失性存儲器裝置。易失性存儲裝置可在被供電時保留存儲在其中的數(shù)據(jù)，非易失性存儲裝置可甚至在電源被切斷期間也保留存儲在其中的數(shù)據(jù)。易失性存儲器裝置提供了快速的速度，并...

本技術涉及存儲，具體為一種計算機外部存儲卡。、計算機中的存儲器多種多樣，軟盤、硬盤、光盤、u盤、移動硬盤、sd卡等都是存儲裝置，通過這些外部存儲器與計算機進行連接，可以為計算機提供更多的儲存空間。、但是傳統(tǒng)的計算機外部存儲裝置與計算機進行連接時，需要將存儲卡與機體內(nèi)的連接件進行對接，同時還...

本發(fā)明涉及靜態(tài)存儲，尤其涉及一種存儲芯片的測試系統(tǒng)及測試方法。、在集成電路芯片制造的過程中，漏電流檢測是在晶圓階段進行的，對于通過晶圓測試（cp，chip?probing）的晶片會被封裝成最終的芯片。芯片的封裝過程包括研磨、切割、打線和塑封等制程工藝，芯片在封裝過程中很可能受到制程工藝的影...

本技術涉及測試設備，尤其涉及一種兼容多接口的老化測試板。、bit(burn?in?test)測試，是固態(tài)硬盤(ssd)的燒機老化測試。固態(tài)硬盤(ssd)連接測試設備，進行連續(xù)長時間的寫入和讀取數(shù)據(jù)，測試固態(tài)硬盤的穩(wěn)定性和應用兼容性。sata(serial?ata)，串行ata，是一種電腦總...