本公開(kāi)實(shí)施例涉及存儲(chǔ)器,更具體地,涉及一種閃存顆粒的可靠性測(cè)試方法、可讀存儲(chǔ)介質(zhì)和計(jì)算設(shè)備。、當(dāng)前很多存儲(chǔ)設(shè)備,如固態(tài)硬盤、ufs設(shè)備等,均以閃存存儲(chǔ)介質(zhì)(尤其是nand型存儲(chǔ)介質(zhì))作為主要存儲(chǔ)介質(zhì),?且逐漸成為主流形態(tài),相比于傳統(tǒng)磁介質(zhì)的存儲(chǔ)器,性能有了質(zhì)的飛躍。、目前,此類存儲(chǔ)設(shè)備在量...